ADC 校准与量程换算提示词范例

请协助我完成当前工程中 ADC 通道的零点校准、增益校准和物理量换算，并用真实输入源或标定记录验证最终单位值。
你可以检查工程代码、构建并烧录固件；只有在已连接基准电压源、万用表、信号源、传感器标定装置或已有标定数据时，才对精度做结论。不要用理想公式替代实际测量结果。

1. 标定条件

目标 MCU：以当前工程为准。
ADC 通道：记录每个通道对应的传感器、电阻分压、运放增益、滤波网络和输入范围。
参考条件：记录 VDDA/VREF、ADC 分辨率、采样时间、校准流程、温度条件和供电电压。
输入源：至少包含零点、量程中点和接近满量程三个可重复输入；每个输入点记录外部仪表读数。
输出单位：明确最终需要换算的电压、电流、压力、温度或其他物理量及单位。

2. 当前问题

固件读取的 ADC 原始值可以变化，但换算后的物理量存在固定偏移或比例误差；不同板卡之间偏差较大，重启后零点可能轻微漂移。

请完成以下工作：
- 找到 ADC 初始化、通道序列、内部校准、参考电压读取、原始值滤波、零点/增益参数、单位换算和参数保存代码；
- 核对分压比、运放增益、传感器灵敏度、ADC LSB、VREF 使用方式、整数/浮点精度和溢出风险；
- 对每个通道在零点、中点、满量程附近采集至少 200 个样本，记录平均值、最小值、最大值、标准差和外部仪表读数；
- 基于真实标定点计算零点、增益和必要的分段线性参数，说明参数存储位置、默认值和异常恢复策略；
- 修改换算代码后重新构建、烧录，并用未参与拟合的检查点验证误差；
- 明确哪些误差来自软件换算，哪些可能来自参考电压、前端电路、传感器非线性或温漂。

最终输出应包含：标定数据表、换算公式、参数保存策略、修改文件、验证误差统计，以及仍需硬件侧复测的风险项。