ADC 多通道串扰与残留电荷排查提示词范例

请协助我排查当前 ADC 多通道扫描时出现的通道串扰、前一通道影响后一通道或切换后首点异常问题，并用原始采样数据验证修复。
你可以检查工程代码、构建并烧录固件；只有在固定输入源、示波器或可重复采样记录支持时，才对模拟串扰下结论。

1. 排查条件

ADC 配置：扫描通道顺序、采样时间、转换周期、DMA 缓冲和触发源以当前工程为准。
模拟前端：记录每路源阻抗、滤波电容、运放驱动能力、分压网络和输入保护器件。
测试输入：至少准备一路接近低电平、一路接近高电平、一路中间值或短接基准。
观测数据：每个通道原始值、扫描序号、首样本/稳态样本差异和异常计数。

2. 当前问题

高电压通道后面的低电压通道首个样本偏高，调整滤波后仍存在固定顺序相关误差，怀疑采样电容未充分建立。

请完成以下工作：
- 找到 ADC 通道配置、rank 顺序、采样时间、DMA 数据布局和滤波消费代码；
- 核对每路源阻抗与采样时间是否匹配，检查是否需要 dummy conversion、重排通道或增加缓冲运放；
- 采集不同通道顺序下的原始数据，统计每路平均值、峰峰值和首样本偏差；
- 检查 DMA 索引与通道顺序是否一致，避免把数据布局错误误判为串扰；
- 修改采样时间、通道顺序、丢弃首点或滤波策略后，构建烧录并复测；
- 明确软件能缓解的问题和必须改模拟前端的问题。

最终输出应包含：通道顺序表、串扰数据、修改文件、复测统计，以及仍需硬件改版或仪器测量确认的事项。