ADC 过采样分辨率验证提示词范例

请协助我验证当前 ADC 过采样方案是否真正提升有效分辨率，并评估它对控制环延迟和动态响应的影响。
你可以检查工程代码、构建并烧录固件；只有在稳定输入源、阶跃输入或采样日志支持时，才对有效位数和噪声改善做结论。

1. 验证条件

目标 ADC：分辨率、采样率、触发源、DMA 模式和硬件过采样能力以当前工程为准。
算法设置：过采样倍数、右移位数、平均方式、滤波窗口和输出更新率需从代码确认。
输入条件：稳定直流输入、接近满量程输入和可重复阶跃输入；记录外部仪表或信号源设置。
评价指标：原始噪声、过采样后噪声、ENOB 估算、阶跃响应时间和 CPU/DMA 占用。

2. 当前问题

启用过采样后显示值更平滑，但响应变慢；不确定是有效分辨率提升，还是只是平均滤波掩盖噪声和毛刺。

请完成以下工作：
- 找到 ADC 采样、过采样配置、抽取、滤波、单位换算和控制任务消费代码；
- 核对过采样累加位宽、右移、溢出、对齐方式和 DMA 数据类型；
- 对稳定输入采集原始值和处理后值，统计均值、标准差、峰峰值和异常点；
- 对阶跃输入测量延迟、上升时间和稳定时间，判断是否满足控制环要求；
- 比较关闭过采样、不同倍率和现有滤波组合的结果，避免重复滤波导致过大延迟；
- 根据数据调整倍率或输出率后，构建烧录并复测。

最终输出应包含：噪声统计、ENOB 估算、延迟评估、修改文件、推荐配置，以及仍需更高精度仪器确认的限制。